提振中国芯质量ATE测试的机会和挑战

来源 :2018中国集成电路产业发展研讨会暨第21届中国集成电路制造年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:fuqiang1986
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本文简述了提振中国芯的质量,分析了ATE测试的机遇和挑战,应该提高产品良率,提高测试效率,测试覆盖率。
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