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本文针对高分子涂层红外光谱发射率的特点,制定了反射率法测试方案。采用这种测量方法,其测试装置简单,且不严格要求标准样品与被测样品温度一致,也不用加热标准样品,测试条件宽松,能消除因被测样品对周围辐射的反射带来的误差,可以测量发射率低的样品,也可以测量不同温度下的发射率,是一种较实用的测试方法。