【摘 要】
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为了评估万焦耳级激光装置不同打靶透镜枸型的远场光束质量，采用焦斑二次放大成像与振幅分区探测的方法，利用两台科学级CCD分别记录焦斑的主旁瓣图像，分析了CCD动态范围、分
【机 构】
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中国工程物理研究院,绵阳,621900
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为了评估万焦耳级激光装置不同打靶透镜枸型的远场光束质量，采用焦斑二次放大成像与振幅分区探测的方法，利用两台科学级CCD分别记录焦斑的主旁瓣图像，分析了CCD动态范围、分束光路相对放大系数、系统噪声等对焦斑诊断的影响。研究表明，采用的方法可以精确探测焦斑旁瓣的角分布，可以实现高动态范围的焦斑测试。
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