功率器件热阻测试中的快速壳温恒定装置

来源 :中国电子学会可靠性分会第十届学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:blueblood008
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在半导体器件热阻的测试中,尤其是低热阻的功率器件,壳温的精确恒定直接影响测试的结果的精度。该文叙述了利用单片机技术,结合半导体制冷器实现了从-2℃~+82℃的 快速温度恒定,并且可以以各种斜率实现温度递升或递降,为精确测量半导体器件热阻和温度特性提供了一个可控恒温平台。
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