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大量的实验表明触点表面的污染膜层将造成接触故障，但对长期室内暴露的实验结果并没有记录。对镀银片１８个月的室内暴露后形成的腐蚀膜层进行分析，发现在镀银片上有不同尺寸的腐蚀圈存在，在圆圈上Ｃｕ和Ｓ的含量相对于银很高，膜层厚度约为１５００埃，并有很强的电流极化效应，因此可推测主要化合物为硫化铜。在圆圈上腐蚀物的静态接触电阻和滑动接触电阻远超过临界失效电阻（１０毫欧）。而圆圈外和圆圈内腐蚀物的化合物可能有Ａｇ和少量Ｃｕ的氧化物，硫化物，氯化物及硫酸物的混合。镀金样片上有微小而分离的腐蚀物，表明镀金片上有微孔存在，对电接触性能有一定的影响。