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在集成电路设计过程中,测试往往是影响产品的重要环节。基于软硬件协同测试技术,本文设计了一款数字IC测试仪.介绍了测试仪的硬件结构及其工作原理,主要包括逻辑功能测试和直流参数测试等内容。讨论了系统的软件设计思想。该测试仪可以广泛用于大量数字IC芯片的测试。
基于软硬件协同测试的数字IC测试仪设计
【摘 要】
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在集成电路设计过程中,测试往往是影响产品的重要环节。基于软硬件协同测试技术,本文设计了一款数字IC测试仪.介绍了测试仪的硬件结构及其工作原理,主要包括逻辑功能测试和直
【机 构】
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电子科技大学微电子与固体电子学院,成都,610054
【出 处】
：
四川省电子学会半导体与集成技术专委会第二届学术年会
【发表日期】
：
2007年期
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