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提高光学系统成像分辨率无论对于经典光学还是量子光学而言都是一个重要课题[1].在衍射受限成像系统中,分辨极限定义为物面两点间的最小可分辨距离,即瑞利极限,表达式为δx=0.61λ/NA,其中λ为光波波长,NA是数值孔径.Kim组验证散斑自关联二阶成像可以突破透镜成像系统的瑞利极限,实验数据表明分辨极限为瑞利极限之下0.75,此时散斑一阶成像不能分辨物体[2].