【摘 要】
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基于分析晶体相位衬度成像(ABI)技术近年来被广泛关注和研究.在ABI系统中,由于投影偏移相对于探测器像素尺寸较小,因此其影响往往被忽略.但随着探测器像素尺寸的不断减小和图像空间分辨率的不断提高,投影偏移将会影响相衬图像的质量和正确性.本文从ABI的原理出发,通过建立有/无物体两种情况下的ABI系统光路模型,分析了产生投影偏移的主要原因,研究其所带来的影响,并提出了相应的校正方法.结果表明,投影偏
【机 构】
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兰州大学核科学与技术学院,兰州,730000
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基于分析晶体相位衬度成像(ABI)技术近年来被广泛关注和研究.在ABI系统中,由于投影偏移相对于探测器像素尺寸较小,因此其影响往往被忽略.但随着探测器像素尺寸的不断减小和图像空间分辨率的不断提高,投影偏移将会影响相衬图像的质量和正确性.本文从ABI的原理出发,通过建立有/无物体两种情况下的ABI系统光路模型,分析了产生投影偏移的主要原因,研究其所带来的影响,并提出了相应的校正方法.结果表明,投影偏移主要由分析晶体的本征摇摆曲线(Rocking curve,RC)宽度以及X射线穿过样品后的折射角所产生.本征RC宽度将导致在物体轮廓边沿内侧所对应少数几个像素的本征RC非对称,而外侧虚像素出现计数;折射角较小时,其对投影影响较小,随着折射角增大,将会导致投影出现错位,直接影响到最终图像的正确性.相应的校正方法被提出,经过校正后能够得到真实的投影和正确的相衬图像.
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