电子元器件耐电压老化与局部放电试验

来源 :第九届全国可靠性物理学术讨论会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yuhuipin1
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本文针对电子设备小型化对设备安全性的影响问题,试图通过电子元器件的耐电压试验来评价电子设备的安全性.
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