PSTTz压电陶瓷的铁电性能和微结构

来源 :第十二届全国电介质物理、材料与应用学术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:b110701007
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本研究采用传统固相反应合成法制备了(1-x)Pb(Sc1/2Ta1/2)O3-xPbTiO3(PSTTx)压电内瓷,研究了该陶瓷的铁电性能以及微结构。X-射线衍射分析(XRD)结果表明,PSTTx晶胞c/a值随PT掺入量增加而变大,PSTTx陶瓷由三方相向四方相结构转变,在x=0.45处PSTTx三方相和四方相共存,为准同型相界处。扫描电镜(SEM)结果表明,MPB处PSTTx晶粒细化导致所需电畴翻转能E增加,剩余极化Pr=21μC/cm2。在准同型相界处,PSTTx压电系数d33=481 pC/N,机电耦合系数Kp=0.58,并具有较低的介电损耗。
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