论文部分内容阅读
简要介绍了国产DF988离子膜的结构.通过傅立叶红外光谱(ATR-FTIR)对DF988离子膜表面进行分析,表明其一侧为磺酸层,另一侧为羧酸层即阻挡层.采用电导率法测定了离子膜面电阻,测定了不同条件下DF988膜的面电阻变化.结果表明:离子膜面电阻随着温度的升高而降低,而电解液的种类和浓度、全氟磺酸和羧酸的不同配比等因素都会对离子交换膜的面电阻造成一定的影响.