HgCdTe分子束外延材料电学性能

来源 :第十三届全国红外科学技术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:neverer123
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该文报道了分子束外延(MBE)HgCdTe薄膜材料的电学性能的最新结果,从材料电学性能的均匀性、时间稳定性及热处理的可调性的角度分析了MBE技术的制备红外焦平面列阵器件(IRFPAs)上所具有的独特优势和潜力。分析表明:P型热处理MBE-HgCdTe材料纵向电学性质均匀且不随时间推移而变化,这些品质是制备红外焦平面列阵器件必须的。
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