论文部分内容阅读
本文利用射频磁控溅射法在MgO基片上沉积了掺有2mol％ La2O3的0.2BiInO3-0.8PbTiO3(0.2BIO-0.8PT)薄膜材料，并利用X射线衍射仪、扫描电了显微镜、铁电性能综合测试系统等研究了该材料的微结构、铁电特性和居里温度。结果表明，该薄膜具有c-轴取向结构，高铁电特性和高居里温度，因此将有重要的应用价值。