【摘 要】
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本文使用溶胶-凝胶成功制备了CaCu3Ti4O12及CaCu3Zr0.05Ti3.95O12陶瓷,利用X射线衍射(XRD)对两种陶瓷的相结构进行了表征,通过宽频介电谱对其介电性能进行测量。研究发现
【机 构】
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哈尔滨理工大学工程电介质及其应用教育部重点实验室,哈尔滨 150080
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本文使用溶胶-凝胶成功制备了CaCu3Ti4O12及CaCu3Zr0.05Ti3.95O12陶瓷,利用X射线衍射(XRD)对两种陶瓷的相结构进行了表征,通过宽频介电谱对其介电性能进行测量。研究发现,首先,当结晶温度为1100℃时,纯CCTO及掺杂之后的CCTO结晶良好； 其次,锆掺杂之后的CCTO介电常数有了极大地提高,从介电-温度谱上可看出,并且相对于纯CaCu3Ti4O12,CaCu3Zr0.05Ti3.95O12出现了明显的弛豫特征,而且这种弛豫特征和测量频率密切相关,属于典型的德拜弛豫。
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