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工业CT系统的设计和生产过程中存在一系列辐射物理问题，包括极限指标分析，散射、探测器效率与串扰的影响分析等。通常采用Monte Carlo方法分析这些问题。但这些问题大都属于小概率问题，直接模拟难度很大，现有的Monte Carlo方法和通用程序都无法满足需要。为解决上述的难题，本论文在重要抽样方法的基础上，提出粒子流指向自动重要抽样方法(PFPAIS);并以PFPAIS方法为主实现一个专用工业CT系统模拟方法：MCCT。已对工业CT系统对线对卡进行一个角度的扫描为例，将MCCT方法与已有Monte Carlo方法进行了比较，证明MCCT方法对工业CT系统能进行更准确、更有效的模拟。另外，本文还使用MCCT方法，对工业CT系统中系统各个部件产生的散射对于投影结果的影响进行了模拟，并进行了分析。本文提出的MCCT方法对工业CT系统中存在的辐射物理问题研究有一定的意义。