纳米级导电粉体CuI合成条件的正交试验及粉体性能研究

来源 :2003全国高分子学术论文报告会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：mlgb7758521

【摘要】

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本文在非水溶剂中以CuSO和KI为试剂,根据液相沉淀法制备纳米微粒原理,采用正交试验设计方法(六因素五水平),通过SEM分析,研究了反应温度、反应试剂浓度、滴加速度、搅拌速度

【作者】

：

宋森;陶芸;李光;杨胜林;江建明;

【机构】

：

东华大学纤维改性国家重点实验室(上海)

【出处】

：

2003全国高分子学术论文报告会

【发表日期】

：

2003年期

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本文在非水溶剂中以CuSO<,4>和KI为试剂,根据液相沉淀法制备纳米微粒原理,采用正交试验设计方法(六因素五水平),通过SEM分析,研究了反应温度、反应试剂浓度、滴加速度、搅拌速度、表面处理剂种类及其含量(相对于生成的CuI重量)等六因素对纳米CuI结晶形态及粒径的影响,得出了合成球形纳米级CuI的优化条件.

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