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随着先进的球差矫正透射电镜的广泛应用,研究者可以较为便捷的获得高质量的电镜图像,为材料的结构分析提供了强有力的技术手段.但是透射电镜的成像机制比较复杂,样品的厚度、倾角、入射电子的能量、光学系统的参数等均可以影响高分辨图像中的信息.对像进行定量分析时,由于图像中的衬度分布和样品中原子种类或投影势之间缺乏严格的线性对应关系,无法直接从图像的强度变化反推出样品中的原子种类或电势分布,因此需要借助图像模拟的方法来辅助解释高分辨图像.