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本文研究了采用X射线荧光光谱法测定对炭阳极中元素时，样品量(样片压片厚度)对测定结果的影响。试验表明：只有样片厚度达到3 mm时，测定结果稳定;样品量不能太少，这样不但不容易压片，而且测定结果不准确，样品达到一定厚度时，使用样品托不会对测定结果产生干扰。
样片厚度对X射线荧光光谱分析的影响
【摘 要】
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本文研究了采用X射线荧光光谱法测定对炭阳极中元素时，样品量(样片压片厚度)对测定结果的影响。试验表明：只有样片厚度达到3 mm时，测定结果稳定;样品量不能太少，这样不但不容易压
【机 构】
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中国铝业河南分公司研究所，郑州 450041
【出 处】
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第三届全国高速分析学术交流会
【发表日期】
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2009年期
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