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由于高温会对电子元器件的性能产生非常有害的影响,因此确保发热电子元器件所产生的热量能够及时排出,是仪器设计的一个重要方面.仪器的平均无故障时间(MTBF)及其工作性能的优劣,在很大程度上取决于其是否具有良好的热设计考虑,以及所采取的散热措施是否有效.
射频频谱分析仪的热设计
【摘 要】
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由于高温会对电子元器件的性能产生非常有害的影响,因此确保发热电子元器件所产生的热量能够及时排出,是仪器设计的一个重要方面.仪器的平均无故障时间(MTBF)及其工作性能的
【机 构】
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中国电子科技集团公司第41研究所(山东青岛)
【出 处】
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2004年全国微波毫米波测量技术学术交流会
【发表日期】
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2004年期
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