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利用SEM和EDX及XRD等检测手段,从阳极帽外观,氧化膜形貌,氧化膜断面观察,氧化膜组成,材料化学成分,晶粒度,硬度几方面对封接后出现发红缺陷的R476阳极帽(简称R帽)和封接后合格的F476阳极帽(简称F帽)进行对比分析,结果表明,封接后外观出现发红缺陷的R帽比封接后外观合格的F帽氧化膜薄且氧化膜组成中尖晶石所占比例低.通过单独提高氧化露点,可使尖晶石增多,氧化膜增厚,可消除R帽封接后外观发红的缺陷.