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采用熔融片制样法,用X射线荧光光谱仪(XRF)同时测定防辐射用重晶石中氧化钡和二氧化硅等主次组分的含量,用基本参数法校正基体效应,并进行了方法的精密度和准确度试验,各组分相对标准偏差RSD(n=10)小于6.0％.用标准物质进行验证,测量值与之基本一致.
熔融制样X射线荧光光谱法测定重晶石中主要组分
【摘 要】
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采用熔融片制样法,用X射线荧光光谱仪(XRF)同时测定防辐射用重晶石中氧化钡和二氧化硅等主次组分的含量,用基本参数法校正基体效应,并进行了方法的精密度和准确度试验,各组分
【机 构】
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华南理工大学分析测试中心,广州510640
【出 处】
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帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会
【发表日期】
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2012年期
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