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熔融制样X射线荧光光谱法测定重晶石中主要组分
熔融制样X射线荧光光谱法测定重晶石中主要组分
来源 :帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zcv_2323
【摘 要】
:
采用熔融片制样法,用X射线荧光光谱仪(XRF)同时测定防辐射用重晶石中氧化钡和二氧化硅等主次组分的含量,用基本参数法校正基体效应,并进行了方法的精密度和准确度试验,各组分
【作 者】
:
曾小平
吴冰
宋武元
【机 构】
:
华南理工大学分析测试中心,广州510640
【出 处】
:
帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会
【发表日期】
:
2012年期
【关键词】
:
熔融制样
射线荧光光谱仪
光谱法测定
重晶石
相对标准偏差
基本参数法
同时测定
基体效应
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采用熔融片制样法,用X射线荧光光谱仪(XRF)同时测定防辐射用重晶石中氧化钡和二氧化硅等主次组分的含量,用基本参数法校正基体效应,并进行了方法的精密度和准确度试验,各组分相对标准偏差RSD(n=10)小于6.0%.用标准物质进行验证,测量值与之基本一致.
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