【摘 要】
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利用数字图像处理技术对硅片进行光致发光缺陷检测，首先需要将目标硅片图像从光致发光图像背景中分割出来，然后再对目标硅片图像进行处理和分析。本文利用图像边缘检测和霍夫变换直线检测相结合的方法，将目标硅片图像从背景图像中分割出来。经过实验证明本文的方法可行，并且具有良好的实时性和准确性。
【机 构】
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上海太阳能工程技术研究中心有限公司
【出 处】
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第八届中国太阳级硅及光伏发电研讨会
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利用数字图像处理技术对硅片进行光致发光缺陷检测，首先需要将目标硅片图像从光致发光图像背景中分割出来，然后再对目标硅片图像进行处理和分析。本文利用图像边缘检测和霍夫变换直线检测相结合的方法，将目标硅片图像从背景图像中分割出来。经过实验证明本文的方法可行，并且具有良好的实时性和准确性。
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