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本文在深入调研分析BIT自测试自诊断技术的基础上，根据自动测试系统自身的特点，提出了BIT自测试自诊断总体设计方案，包括BIT硬件设计和软件平台设计；详细介绍了BIT自测试自诊断技术如何提高自动测试系统本身的自检能力，以及如何及时的将“弹”、“地”故障隔离开来并且进行高效的故障定位。
基于BIT的自动测试系统研究
【摘 要】
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本文在深入调研分析BIT自测试自诊断技术的基础上，根据自动测试系统自身的特点，提出了BIT自测试自诊断总体设计方案，包括BIT硬件设计和软件平台设计；详细介绍了BIT自测试自诊
【机 构】
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北京航天测控技术有限公司北京100041
【出 处】
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第二十届全国测试与故障诊断技术研讨会
【发表日期】
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2011年8期
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