近年来我国的红外焦平面探测器研发水平快速发展,多型探测器已向实用化迈出了一大步,为成像制导系统的工程化研制提供了可能。作为系统的核心器件,探测器的指标参数制约和影响着制导系统的探测、跟踪、抗干扰等关键性能。以往关于探测器参数对系统性能影响的分析多侧重于研究归一化探测率(D~*)、非均匀性、动态范围等总体指标对系统性能的影响,也更多地侧重于对系统探测性能(如 NETD、作用距离等)的分析。然而,作为系统总体必须清楚地知道探测器的各种参数(包括结构参数)对系统性能的影响,才能对探测器提出准确而完整的要求。本文分析了探测器结构参数对制导系统性能的影响,主要关注探测器内部探测芯片位置参数的影响分析,这种影响不仅体现在对系统探测性能的影响,也体现在对系统跟踪性能、制导性能等方面的影响。通过分析,本文试图提醒系统总体设计人员应该关注更多影响系统性能的因素,以便对探测器提出确切、完整的技术要求,同时也有助于探测器研发人员更好地理解总体的这些要求。