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采用TEACO2 激光对HgCdTe光电图像传感器进行了辐照实验，观察到阴影、裂痕以及暗线等新的现象。认为传感器表面衬底崩裂使光的有效透过率降低造成阴影的出现；裂痕损伤最先出现在传感器内部，随着应力作用增强，才出现在衬底表面；对于反复出现的暗线，是因为激光辐照，使Hg析出并在读出电路上富集，造成衬底与信号选择线短路，而这样的现象具有一定的偶然性。