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本文介绍了一种适用于Ⅱ型铁电类多层陶瓷电容器(MLC)的快速无损检测方法,这一测试方法是建立在铁电类MLC旋加直流偏压时产生机电谐振现象的基础之上,电容器的内部缺陷会严重影响电容器的机电谐振,谐振过程所受到的阻尼可以很好地表征MLC的缺隐。选择电容沿宽度方向、横向伸缩振动模式的基波反谐振阻抗Z<,a>作为失效判定参量,以其模值的大小作为MLC的筛选判据。