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80C86单粒子效应测试及实验研究
80C86单粒子效应测试及实验研究
来源 :第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:doublexiu
【摘 要】
:
单粒子效应是影响卫星正常工作主要因数之一,它是由于空间带电离子入到超大规模集成电路(如SRAM、CPU、FPGA等)中所引起的。由于CPU单粒子效应测试系统复杂,帮国内外在这一方面
【作 者】
:
陈晓华
贺朝会
【机 构】
:
西北核技术研究所(西安)
【出 处】
:
第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会
【发表日期】
:
1999年期
【关键词】
:
单粒子效应
测试原理
超大规模集成电路
数据处理
实验方案
带电离子
测试系统
因数
卫星
人员
空间
国内
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单粒子效应是影响卫星正常工作主要因数之一,它是由于空间带电离子入到超大规模集成电路(如SRAM、CPU、FPGA等)中所引起的。由于CPU单粒子效应测试系统复杂,帮国内外在这一方面的报道不多。该文较详细介绍了研究人员所研制80C86单粒子效应测试原理、实验方案其数据处理。
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