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在对热等离子体法气相合成的二氧化硅超细粒子（平均粒度约为１０ｎｍ）进行电镜（ＴＥＭ和ＳＥＭ）测试时，观察到二氧化硅粒子在电子束作用下直观连续地“熔化”、“团聚”过程。研究人员暂且称之为“类烧结”现象。在了解试样的各种物理化学性质之后，多次重复进行电镜观察，分析可能影响实验结果的种种因素，比如：制样方法、有机杂质、水份、电子束高压与束流等，试图对这一现象作出解释。