X射线荧光光谱法测定地质样品的技术探讨

来源 :第九届全国地质与地球化学分析学术报告会暨第三届青年论坛会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:clijunhan
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  X射线荧光光谱法(XRF)具有制样简单、绿色环保、可同时测定多个元素等特点,被广泛应用于勘查地球化学分析领域中。在大批量分析工作中,粉末压片X射线荧光测定是快速,经济的主导方法,为高精度、大批量地球化学数据的获取做出令人瞩目的贡献,发挥了重要作用。在今后相当长的时间内,X射线荧光光谱将是多种材料主、次和部分微量元素的主导分析手段之一。目前X射线荧光光谱同时分析的元素约为40余种,关于这些元素的XRF分析问题如样品制备方法、测量条件选择、元素间的吸收增强等,已有大量文献报道,大多数元素的分析方法已相当成熟,但对于某些元素测量条件的选择技巧,漂移校正的使用,工作曲线的分段,合理选择校正项等问题研究相对较少,而且应该根据具体元素具体分析。
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