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测量了CaO掺杂的CeO<,2>氧离子导体(CeO<,2>)<,1-x>(CaO)<,X>的正电子寿命谱,发现随X的增加(X从0.05到0.5)正电子平均寿命先增大后减小,峰值出现在X=0.12附近。从掺杂离子与缺陷的相互作用所造成的缺陷组态的变化解释了正电子寿命的变化。