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表面曲率可影响固体颗粒的表面能，进而影响其表面羟基的反应活性[1-2]，但目前对这种影响的认识还不甚清楚。本文采用酸-碱滴定法，测定了系列具不同曲率半径(r)的二氧化硅(SiO2)颗粒在水介质中的表面羟基表观解离平衡常数(Ka)，结果发现pKa 与曲率半径的倒数(r？1)成反比(见图1)，表明表面羟基的解离趋势随r 减小(或曲率增大)而增强。