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双参数ＮａＩ γ谱分析程序
【机 构】
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原子能科学研究院
【出 处】
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第八届全国计算机在科学技术中应用学术会议
【发表日期】
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1995年期
其他文献
研制了一套以同心圆筒型空气电离室为主体的γ辐射探测装置,用于大规模(TBq量级)生产裂变(?)Mo 的生产过程监测．监测对象为生产工艺中A、B、C三个色层柱,内容为实时监测各色层
基于物理应用的观点，该文讨论γ能谱的测量精度与ADC道剖面的关系，讨论了五种典型道剖面，其中二种是威金逊型和逐次近似型的。实验数据（道计数）是道剖面子输入谱函数的积的积分。