在温度循环测试条件下塑料球栅阵列组件的铅-锡焊点和无铅焊点之间板水平可靠性对比

来源 :2004’中国广州应对欧盟WEEE和RoHS指令暨第三届废旧电气电子回收技术国际研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hdydrd
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本文分析了在温度循环条件下PBGA焊点的热疲劳寿命特点。温度循环条件是一小时周期,温度从-40℃变化到125℃。从测试数据获得了维泊尔分布特征。此外,建立了无限单元模型,用于分析焊点热疲劳寿命。提供了两种类型塑料球栅阵列组件的结果,研究了共晶锡铅和锡银-铜焊接,计算和实验结果的对比表现出良好的一致性。
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