在原子吸收光谱分析中，需要引入光子逃逸因子来描述谱线的自吸收。此研究对光谱定量分析具有重要参考意义。本论文主要利用逃逸因子的基本理论，对影响逃逸因子的因素进行理论分析，并以钠原子吸收谱线和原子氧谱线为例，分析逃逸因子对谱线强度的影响。　　首先，讨论了谱线展宽类型对逃逸因子的影响。原子吸收光谱都有一定的展宽，不同描述方法反映了吸收原子的不同性质。本文主要分析了高斯线型（多普勒线型）、洛伦兹线型和佛克脱线型的产生机制及其描述方法，进而对不同线型条件下逃逸因子的理论进行了分析。　　其次，讨论了等离子几何体对逃逸因子的影响。不同等离子几何体要考虑不同边界条件，逃逸因子具有不同的形式。本文分析了常见的无限大平板、无限长圆柱和球形等离子几何体条件下，逃逸因子的计算方法，并和以前的结果进行了对比分析。　　第三，以原子吸收测量中的钠330.3nm吸收线为例，根据实验数据，讨论了谱线中心光学厚度，并分析了在无限大平板和无限长圆柱条件下，逃逸因子的计算结果。并对计算结果进行了分析讨论，得到了一些重要结论。　　最后，以高层大气风场测量中的原子氧 O(1D)630.0nm谱线为例，分析了其展宽机制和等离子几何体条件，讨论了不同高度处谱线中心光学厚度和逃逸因子的计算结果，分析了逃逸因子和谱线中心光学厚度的关系，解释了逃逸因子对谱线强度测量的影响。此分析对利用极光测量高层大气风场的理论和实际应用都具有重要参考价值。