颗粒材料的许多重要特性是由颗粒的平均粒度和粒度分布参数所决定的，因此，对颗粒粒度的测量显得日益重要。在颗粒粒度的各种测量技术中，光散射法以其优异的性能得到了极大的重视。目前，光散射测量颗粒粒度技术中应用最广之一的是光衍射法。文中对基于夫琅和费衍射理论的光衍射法颗粒分析技术进行了模拟与实验研究。 首先系统研究了光衍射法粒度测试的原理，分析了夫琅和费衍射图样的特性在颗粒测量理论中的应用以及在单峰和双峰颗粒群不同结构参数下对衍射光能分布特征的影响。根据夫琅和费衍射理论的数学模型，实现了光衍射法粒度测试过程的计算机模拟。选用Chahine迭代以及Projection迭代两种独立模式反演算法，分别在实验测量信号中未引入误差和引入随机噪声两种情况下进行了模拟研究，发现当有噪声干扰时，粒度分布反演结果与真实分布之间有明显的差异，直接使用其结果会得出错误的结论。 针对粒度反演算法对噪声敏感的影响，通过对测试原理及衍射图样的深入分析，提出了采用曲线窗口旋滤波对衍射图样进行预处理的方法。经过旋滤波处理后的单峰分布和双峰分布粒子群的粒度分布误差从直接粒度反演的33．52%、31．37%、35．78%和39．06%、35．70%分别减小到5．93%、4．24%、5．18%和6．48%、7．33%。实验结果证明采用曲线窗口旋滤波方法，可显著改善反演算法的稳定性。 搭建了一套基于面阵CCD的激光衍射颗粒粒度分析实验系统，并进行了大量的实验研究。利用图像处理技术对得到的衍射图样进行分析和处理，并在程序中实现粒度测量的光环探测单元的任意划分。使用Projection反演算法对由旋滤波方法滤波后的测量信号进行粒度反演，实验表明测试结果与筛分法的测量结果相符合，同时，进一步验证了采用曲线窗口旋滤波方法改善反演结果的有效性。