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随着集成电路的发展速度仍然按照摩尔定律推进，集成电路的功能和复杂性越来越高，对高性能集成电路的测试提出了新的要求。测试和可测试性设计的地位日趋重要。通常测试高性能集成电路的方法是使用昂贵的专用自动测试设备(ATE)，由测试厂家进行测试。该过程不但需要制作专门的探针卡，而且测试费用高昂，等待时间长。
为解决上述测试问题，本论文着重研究了在实验室环境下测试大规模复杂芯片的方法，针对具有2000万晶体管，16个全双工端口/3.125Gbps，包括近700个信号与控制引脚(共1152个引脚)的曙光5000 Switch芯片的测试要求，设计并实现了一种通过PC控制，使用符合IEEE1149.1标准JTAG接口的测试平台。使用此测试平台，实现了对集成边界扫描测试、存储器内建自测试、内部扫描测试等几种结构的待测芯片(DUT)的测试。
测试平台具有以下特点：
1.适用性：能够使用标准JTAG接口对集成多种DFT结构的芯片进行测试。
2.低成本：测试环境易建立，使用普通设备。
3.扩展性：扩展测试指令集即可支持新测试种类。
4.移植性：测试平台各部分相互独立。每部分的更改和替换几乎不影响其它部分。测试平台的结构主要分为三部分：
1.PC机测试控制软件。读取EDA软件生成的测试向量，将测试向量进行转换后加载到待测器件的JTAG接口；读取测试结果，与预期输出进行比较，判断测试是否成功。
2.PC机与待测器件JTAG接口的硬件连接和配置。
3.使用FPGA模拟曙光5000 Switch芯片内部的典型测试结构，构造了相应的DUT验证了该平台的可用性。实验结果证实可对具有边界扫描测试、内建自测试和内部扫描测试的sample电路进行正确测试。
本论文的主要贡献在于针对曙光5000 Switch芯片的测试要求，设计并实现了一种基于PC控制，使用符合IEEE1149.1标准JTAG接口的测试平台，该平台可用于在实验室环境下对复杂集成电路进行测试。
最后，本论文对测试平台的功能、性能和适用性进行了一定的分析，验证了测试平台的有效性，并提出了一些针对Switch芯片测试平台的改进方法。