用γ谱仪对样品进行定量测量时，需要知道探测器对特定γ射线的探测效率。为了从已知刻度的若干能量点的γ探测效率得到该能区任意能量点的探测效率，就需对γ探测效率刻度数据进行曲线拟合。本文介绍两个全能峰效率曲线的拟合公式。这两个公式对拟合参数都是线性的，都是由γ射线与物质相互作用过程(光电吸收、康普顿散射和电子对产生)的几率随入射γ射线能量的变化关系的渐近表达式中的若干项拼凑调整而得到的。两个公式都能够在很宽的能区上很好地拟合锗探测器和NaI(T1)闪烁探测器对点源、面源及体源的全能峰效率曲线。本文详述了这两个拟合公式对不同探测器在不同探测几何条件下的全能峰效率曲线进行拟合的情况。 在用γ谱仪对环境土壤样品放射性水平进行测量时，待测样品高度和基质密度往往与刻度标准样品的不同，所以必须考虑样品高度的不同和基质密度的变化对测量结果的影响。本文用MC模拟计算的方法，分别研究了不同体源样品高度和密度下样品对γ射线的自吸收因子与γ射线能量的变化关系。同时验证了，体源自吸收因子随γ能量的变化关系可以很好地用本文介绍的效率曲线拟合公式来表达。