在液晶显示领域中，为了设计出理想的液晶显示器件，对液晶分子排列情况以及光学性质进行的研究就显得尤为重要。光波导技术，作为一种借助于光在薄层中的传播理论和多层光学结构理论的新的光学探究技术，被越来越多的应用于探测薄层内部结构以及物理性质的变化。　　本文以反扭曲向列相液晶盒为研究对象，利用全漏波导技术对其进行了详细的研究和测量。论文中首先对两种比较熟悉的液晶盒——扭曲向列相液晶盒和垂面排列液晶盒进行了静态导波实验的研究。通过大量的实验测量和对实验结果规律总结，在验证实验方法可行性和准确性的基础上，对反扭曲盒进行了详细的导波实验测量。通过光学导波实验和理论模拟相结合，得到反扭曲排列液晶盒的多项参数，其中包括PI层和ITO层的折射率的实部与虚部，并利用这些测得的参数模拟出盒中液晶分子指向矢分布的详细信息。