伴随着超深亚微米技术在集成电路的广泛使用,推进了电子器件尺寸不断缩小,集成度大大提高,芯片的规模呈现出摩尔定律的增长趋势。同时IP核的复用技术应用到SoC设计中,这种技术不仅能使开发周期大大缩短,而且系统的功能和性能也有很好的改进。但是,由于集成的IP核数量的增多,从而使得测试数据量和测试所耗时间快速上升。如果通过扩大自动测试设备的存储面积,增加它的传输带宽来解决这个难题,必然导致测试成本大幅度增加。因而,压缩测试数据成为缩小测试数据量的存取面积,减少测试所用时间和降低测试成本的一种最直接有效的途径。为了能减少测试数据量,本文围绕SoC测试数据压缩的方法展开研究,在针对一些典型的压缩方法深入分析和比较的基础上,提出了部分向量切分的LFSR重播种的方案。LFSR重播种是通过线性反馈移位寄存器把种子展开后获取测试数据,然后将测试数据填充到扫描链中。在LFSR重播种技术中,测试集中的测试向量所包含的确定位的最大个数对编码中最后生成的种子的长度有很大影响,而测试向量中所含的确定位的数目较多是造成编码难以实现的关键。因此,本论文部分切分的LFSR重播种的方案是在编码之前,首先处理测试集,利用测试向量部分相容的压缩方法,使得测试集中的所含的确定位的个数减少,降低LFSR种子算法复杂度,使最后生成的种子的长度缩短,从而缩小测试所用的存储面积,节省了测试成本。采用此种方案,不仅使编码效率提高了,测试向量生成的时间减少了,而且所需的存取面积也有大幅度的改进。利用ISCAS-89基准电路,将此压缩方法与其他方法对比。实验结果很明显的说明,此压缩方法取得很好的效果。最后,建立一个模型,把该压缩方法应用到此模型中。在设计中,采用内建自测试的方法,各个模块通过VHDL语言描述,并且在Quartus II环境下实现仿真。