双晶DC SQUID磁强计的研制及其在无损检测上的应用研究

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本论文的主要工作是用高温超导薄膜制备性能良好、实用的DCSQUID磁强计,并将该器件用于无损检测。文中主要介绍器件的制备过程和在涡流法无损检测上的应用。 用X射线分析了制备的YBCO超导薄膜具有单相,C轴取向好,外延特性好的特点;用PLD方法制备的YBCO超导薄膜Tc可达90K,临界电流为106A/cm2的量级。 论述了超导量子干涉器(SQUID)的基本物理原理,着重于双晶晶界Josephson结,详细讨论了High-TcDCSQUID磁强计的设计和制作工艺,利用自行研制的一套计算机数据采集测试系统,对DCSQUID特性进行了测量,所制作的垫圈型双晶结High-TcDCSQUID磁强计在无超导屏蔽的条件下,白噪声水平达到了577fT/√Hz。应用该磁强计建立了一套无损检测(NDE)系统,根据涡流检测的原理可以检测出十几毫米厚多层铝板中的缺陷,扫描出的图像显示出缺陷的形状,但是由于目前还没有一个合适的数学模型,无法和缺陷的大小对应起来。
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