集成电路测试仪控制模块及驱动设计

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集成电路生产企业的发展壮大对测试技术的也提出更高的要求,集成电路测试已成为集成电路制造中的关键技术之一。因此对集成电路测试技术和测试设备的研究具有重要的现实意义。本论文主要阐述了模拟集成电路测试仪控制模块和上位机USB接口部分设计,首先本文根据上一版集成电路测试仪所存在的不足和根据厂家提供改进建议,对模拟集成电路测试仪的方案做了重新设计。在模拟集成电路测试仪中引入了CPU控制系统。使测试仪可以实现脱机运行,大大提高了模拟集成电路测试仪灵活性和稳定性。在CPU板的设计部分本文选用了当今广泛使用的ARM做为处理器,同时根据测试仪对系统需求的要求设计了CPU配套的存储系统,完成了CPU板原理图的设计,并在布局布线前对原理图做了信号完整性分析,提高了制板的成功率。本文根据测试仪启动程序的特点定制了测试的引导程序CEFBOOT。在CEFBOOT中完成了设备驱动设计,实现了通过通用接口与上位机通信的功能。根据测试仪与上位机数据通信的速度要求,选用USB接口作为与上位机的通信接口,并设计了人机接口驱动,根据CPU厂商提供的BSP设计制作了驱动程序,并完成了驱动的优化与测试。本文所设计的控制模块是整个测试仪的基础部分,通过与上位机的联合调试,本控制模块能够很好的完成测试仪的测试流程,并能通过通用接口与上位机可靠通信,具有极大的现实意义。
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