窄带半导体InVO4掺杂TiO2薄膜可见光催化性能的研究

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InVO4作为一种新型窄禁带半导体材料,具有可见光波段的光催化性能。本文以氯化铟(InCl3)、偏钒酸铵(NH4VO3)和轻氢氧化钾(KOH)为原料,采用低温回流法制备了InVO4溶胶,这有效的降低了合成InVO4的温度。将上述InVO4溶胶与实验室自制的回流的过氧钛酸溶胶(RS溶胶)混合获得混合溶胶,以此混合溶胶为前驱体制备了InVO4-TiO2复合光催化薄膜和梯度薄膜。通过各种表征手段讨论了工艺参数对回流处理最终产物物相、晶粒形貌、溶胶稳定性、复合薄膜的吸光性能及光催化活性的影响。实验结果表明,在回流制备工艺过程中,反应体系的pH值、回流时间和不同工艺路线对目标相的生成具有重要的影响。当pH值为8时,体系中可形成结晶度较好的InVO4晶粒。随着回流时间的增加,溶胶中的晶粒分散性会得到明显的改善,InVO4晶粒尺寸出现逐步增大的趋势。根据晶粒表面化学梯度模型讨论了InVO4溶胶在回流条件下形成的机理,其过程可以认为是在In(OH)3晶体表面形成化学梯度环境,VO43-单体和In3+离子通过原位重排而转变为正交相InVO4晶体。本实验还进行了InVO4-TiO2复合光催化薄膜和梯度薄膜在可见光照射下的光催化活性测试。结果表明在可见光照射下,10层复合光催化薄膜表现出最好的活性;在可见光照射12 h后,InVO4掺杂量为3.0wt%的复合薄膜对甲基橙的单片试样脱色率达到了33.8%。这是因为,两种半导体复合时形成了同型异质结,InVO4的外层电子吸收能量从基态跃迁至激发态,这个激发态电子注入到邻近的TiO2的导带,从而阻止光生电子和空穴在短时间内重新复合,实现InVO4的光生电子和空穴的有效分离,提高薄膜的可见光活性。
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