双折射率检测广泛应用于珠宝鉴定中,随着科技的发展,医疗水平的进步,人们发现生物组织的双折射率可以很好的反映组织的状态。然而由于组织的特殊性,传统的双折射率检测技术失去了其用武之地,因而迫切需要新的双折射率检测技术的出现。偏振OCT技术作为最近非常热门的医学成像技术,由于其独特的偏振光成像的技术,可以很好的进行双折射率检测。然而对于传统的时域偏振OCT,受限于参考臂的机械扫描,成像速度较慢;对于频域偏振OCT,虽然不需要进行纵向扫描,但需要对探测到的信号作复杂的算法处理,性能也受到各种限制。因而改进偏振OCT结构以便更好的进行双折射率检测,是非常必要的。光电振荡器技术由于其输出信号的高Q值、低相位噪声等特性,被广泛应用于微波信号的生成。考虑到光电振荡器输出信号频率与环路延时的密切关系,当待测件折射率已知时,光电振荡器的结构可以用来测量待测件长度,当待测件长度已知时,该结构即可用来测量待测件的折射率。本文结合了医学成像领域的偏振OCT技术和微波光子学领域的光电振荡器技术,分别提出了两种新型的双折射率检测方法和装置。第一种方法,通过将时域偏振OCT参考臂的机械扫描转化为对SOA的注入电流的调节,提高了时域偏振OCT的成像速度。仿真结果表明,所提出的结构可以分辨出20μm样品10-3的双折射率变化;第二种方法,通过偏振控制器、偏振合波器组成偏振复用双环结构,利用输出微波信号频率对短环路延时的高度敏感性,对已知长度的样品进行双折射率检测。仿真结果表明,在长环光纤51m,短环光纤1.02m,滤波器中心频率为9.984GHz的条件下,可以实现对10cm的样品,0.012的双折射率变化检测。并且当长环长度增加或滤波器中心频率增加时,可以实现分辨率更高的双折射率检测。