固态功率控制器(Solid-State Power Controller,简称SSPC)是一种电子组件,是拥有继电器的转换功能和断路器的电路保护功能的开关设备,也是控制ON状态和负载OFF状态的关键设备。SSPC的核心部件是VDMOS场效应晶体管,它是一种高可靠性和长寿命的电子器件。本文就是基于测量的MOS管的退化数据,选择合适的性能指标退化数据描述退化过程,并且讨论在不同温度下MOS管的可靠度。寿命数据分析是用来衡量可靠性的方法之一。随着高可靠长寿命的产品出现和广泛应用,对产品的寿命数据分析并提出相应的改善措施的研究已经越来越重要。寿命数据的统计分析是通过对产品的寿命特性做定量了解,通过寿命数据分析可以确定寿命分布类型以及获得参数的估计,从而得到可靠度函数。本文以研究MOS管在不同温度条件下的可靠度为研究目的,具体包括以下研究内容:首先,本文先是回顾了国内外对MOS管可靠性的研究现状,并且指出了这一类问题的研究意义。其次,根据MOS管在结温温度为150摄氏度下的性能指标退化数据,本文分别用最小二乘估计的方法和二阶最小二乘估计的方法拟合了MOS管性能退化数据回归曲线,以超过该性能指标初始值的20%为失效阈值,给出了MOS管的伪寿命估计。除此之外,还通过测量MOS管在其他温度下的失效情况,分别在结温温度为180摄氏度、200摄氏度和230摄氏度下MOS管都有不同数量的失效数据,将失效数据按照参数估计的方法得到了寿命分布,同时给出MOS管在上述不同结温温度下的可靠度函数。再次,本文以考虑MOS管的寿命分布为威布尔分布,结合伪寿命数据和失效数据,给出了不同温度下威布尔分布的形状参数和尺度参数的估计,并用假设检验的方法验证了失效分布的合理性。最后,利用Arrhenius模型外推出MOS管在其他温度下的特征寿命,例如35摄氏度、45摄氏度、55摄氏度、65摄氏度、75摄氏度、100摄氏度、110摄氏度和130摄氏度。