随着集成电路技术的发展,SoC芯片的尺寸越来越小,但是,SoC芯片的功能却是随之增强。为了满足SoC的强大功能,嵌入在SoC芯片中的存储器不但容量要增大,而且类型也不能单一,这给SoC中存储器的测试带来了极大的困难。传统的测试方法不但硬件电路的开销大、测试周期长,而且故障覆盖率低,远远不能满足测试的要求。所以,制定一种高质量的存储器测试策略具有重要的理论和实际意义。　　本文在深入研究了SoC中存储器特点的基础上,分析了SoC中存储器的故障模型,讨论了存储器的测试方法以及算法。设计了一个灵活的BIST控制器,并提出了面向”字”的测试编码,根据需要对嵌入在SoC中的ROM和SRAM进行测试。该测试主要采用存储器内建自测试方法,设计的BIST控制器包括算法状态机、地址生成器模块、特征分析器模块、数据背景生成模块和比较器模块。设计的基于March算法的22位测试指令编码,能够对存储器内的字内故障和字间故障进行测试,节省了测试时间,提高了测试效率。根据存储器的特点及要求,可以在编写的控制界面定义测试参数,选择测试对象,并实现对SoC中存储器的测试。　　验证仿真结果表明,本文设计的存储器内建自测试BIST控制器和测试指令可以灵活地对SoC芯片中不同类型的存储器进行测试,并且达到了比较好的测试效果。