本文通过电和光导数方法对高功率半导体激光器的可靠性进行了理论计算和实验研究。我们构建的测试系统采用PC-NIDAQ虚拟仪器技术,并通过软硬件的控制实现单管及风冷条形激光器的切换,使该系统在不影响测试精度的前提下具有测试单管及阵列的兼容性。并在此基础上针对高功率激光器及其阵列驱动电流大输出光功率高等特点,对测试系统进行了软硬件等一系列改进,进一步提高了实用性和系统的测试精度。基于原来的高功率半导体激光器电导数测试技术,用我们所构建的测试系统对百余支高功率单管激光器和几十支阵列进行了电导数测试和可靠性研究,针对条形线阵列的实际特点加入了光二阶导数参数Q,并对单管和阵列器件进行了光谱测试,与电导数测试进行了相互印证,证实了光二阶导数曲线及参数Q可以有效表征器件管芯的均匀性。另外,为了更好的了解阵列的工作情况,搭建了模拟阵列测试系统,用多个单管并联模拟组成阵列进行电导数测试,研究了阵列单元器件与整体的关系及对可靠性的影响。再次,通过电路模型进行了阵列模拟电导数计算和理论分析,研究了列阵单元差异与列阵电导数参数之间的关系,以及列阵单元的一致性在列阵电导数曲线及其参数上的体现,通过计算结果与一些阵列电导数测试结果的分析比较,进一步分析了电导数参数与阵列可靠性的关系。证明了可以通过导数测试技术对高功率激光器及其阵列的质量和可靠性进行评价、筛选,导数检测方法是一种无损、快速、简便的检测技术。