LTE-TDD终端测试仪系统及接口设计

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随着社会的不断发展,人们不断的提高对通信的要求,LTE因此应运而生。而随着LTE研究规模迅速发展,各种LTE开发正如火如荼进行,各国家之间的竞争也日益激烈。而当前需要研发的LTE方向种类也很多,而终端设备作为通信链上重要的一环占据着十分重要的位置。因此拥有一套LTE-TDD终端测试平台有着重要的意义。终端测试仪可以提供了对终端的综合性能测试,测试每台终端能否支持特定的业务等相关参数,终端测试仪必须实现3GPP中规定的物理层、协议栈基本功能。其中物理层的主要功能是完成3GPP协议规定,包括交织、加扰、映射、编码、复用、调制和扩频等。同时还要完成射频数据采集任务,以便计算终端各个相应的射频指标。   首先,本文根据测试平台的基本要求,基于对时间和扩展性的需要,设计出采用FPGA+DSP+ARM的系统硬件架构。DSP作为平台基带信号的核心,采用了TI公司的 TMS320C6455定点处理器芯片,ARM采用了三星S3C6410主要完成协议软件处理,基于处理数据的需要选用FPGA为XC5VSX95T,主要完成系统定时和物理层部分算法的实现。最后通过GPIO引脚产生的中断完成芯片之间的联系,实现数据的交互。   然后,在开发平台进行PCB设计后,完成对DSP芯片TMS320C6455处理器时钟初始化工作,并在此基础上对LTE-TDD测试平台系统的配置和管理,包括电源、时钟、定时器、引脚、IO接口等功能的全局设置。配置数据的传输模块,使用EDMA与Mcbsp结合的方式传输数据,并产生相应的中断以保证后续的FPGA数据处理的正常进行。采用了GPIO引脚触发中断的方式与ARM之间实现数据的交互。并根据以保证开发平台芯片之间顺利实现数据的传输。在物理层基带信号产生过程中,对于复杂模块的处理,采用了FPGA来硬件实现,同时采用了FPGA实现时钟分频,以满足系统对于时钟的要求。   最后,论文设计通过芯片TMS320C6455的DSP处理器及XC5VSX95T的FPGA完成了对开发平台数据传输驱动的设计,实现了通用开发平台的前期工作,保证数据接收和发送的准确性,为后续开发打下了坚实的基础。  
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