随着半导体技术,包括各类晶体管、集成电路、信号处理、数据处理和计算机技术等突飞猛进的发展,极大地推进了相控阵雷达技术的发展,并降低了相控阵雷达的造价,当前世界各国新研制的雷达多数为相控阵雷达。相控阵天线依靠控制各通道的相位,实现波束扫描,而通道的幅相变化将影响到阵面性能,因此必须开展阵面校准的方法研究,校准方案反过来又影响着相控阵系统的设计。为达到校准和诊断的目的,专家学者研究了多种方法,如内监测校准法、外监测中场校准法、远场校准法等这些方法具有一定的适用对象,在系统设计时必须考察使用条件。本文以X波段试验阵面为平台,着重研究了外监测技术中极化效应和校准算法。本文分析了线极化的收发天线间极化效应引入误差的形式,进行了研究仿真,给出抑制收发天线间极化效应误差的约束条件;在校准过程中,传统的单路通方法的测试信号通过波束形成网络后,信号功率衰减较大,致使信噪比太低,严重影响到校准结果,本文提出了“局部反相法”,测试过程中子阵级单元全部导通,通过控制某几个通道相位变化,组成线性方程组,解出各单元幅相值,有效解决了传统单路通方法信噪比较低的问题。