由于超大规模集成电路VLSI复杂性的飞速增长,VLSI电路的测试变得越来越重要。随着片上系统SoC中IP核集成度的提高,测试数据量迅速增加。由于有限的测试通道宽度和大量的测试数据量,那么必须寻求更加昂贵的自动测试设备ATE,这就导致了测试成本的增加。如何压缩迅猛增加的测试数据量成为目前巨大的挑战之一。因此,本论文围绕片上系统SoC测试数据的压缩问题展开了研究。测试数据压缩是解决SoC测试问题的一种行之有效的方法,它可以用于减少所需存储的测试数据量。测试时,压缩后的数据经过解码电路被还原为原始的测试向量,施加到被测电路完成测试。编码压缩技术是测试数据压缩方法的一个重要分支,目前得到广泛的研究。本文介绍了SoC测试的相关概念和一些典型的测试数据压缩技术,并作了相关分析。本文提出了一种基于折半划分的测试数据编码压缩方法,它将整个测试集划分成若干定长块,对非全0/1块,使用折半的方法划分;对全0/1块,使用标记位来表示划分的次数。与传统的编码压缩方法相比,它只需要记录数据块被折半划分的次数就可表示其长度,同时还具有硬件解压结构和通信协议简单的优势。此外,本文还在LFSR的基础上作一些编码压缩的工作,提出了一种分类共享种子和位翻转的测试数据压缩方法。它根据测试集分布的特点,将确定位处于相同位置的测试向量分为一类,每类中向量共享一个种子,以此提高种子的利用率,达到压缩测试集的目的。解压缩时,通过地址信息和翻转信号来翻转与LFSR重播种展开序列即可获得原测试集。该方法在压缩效率上具有明显的优势。