超深亚微米等技术的应用使得电路的集成度日益增高,大规模数字集成电路的测试难度越来越大,芯片测试尤其是存储器的测试遇到了前所未有的挑战,已经成为制约整个行业发展的瓶颈。随着人们对元器件可靠性的日益重视,国内很多从事电子行业的单位都配备了集成电路及其它电子元器件的测试系统。但从国外引进的大型测试系统,往往存在测试程序少、测试适配器单一等问题,各单位缺乏既了解设备又熟悉器件的技术人员,导致设备利用率不高。本论文主要针对实际工作中存储器在测试应用方面遇到的问题,提出解决办法。首先,介绍了存储器、测试系统及测试技术的发展与趋势。论述了存储器的工作原理、故障模式以及故障模型,然后研究了存储器的测试方法,产生测试图形的测试算法,并按照图形的长度进行了分类研究。这些算法复杂程度不同,故障覆盖率也不同,在实际应用中可以适当选取。接着还对存储器内建自测试技术(BIST)进行了展望,基于BIST的测试技术的发展和完善是VLSI制造业面临的一项重要课题。最后,针对现有测试系统存在的软、硬件问题,我们结合测试理论研究,探讨解决方案,并把测试理论应用到现有集成电路测试系统中,进行测试程序开发,并设计开发了相应的测试适配器,解决了工程应用急需的存储器的测试难题。经过实验对比与验证,开发的测试程序及适配器运行可靠,测试状况良好,测试误差均在设备允许误差范围内,解决了工程应用中的难题,取得良好的科研与经济效益。